В гостях у Грёблина

Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям.

Название: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий
Автор: У. Жу, Ж.Л. Уанг.
Издательство: БИНОМ
Год издания: 2013
Страниц: 598
Язык: Русский
Качество: хорошее
Формат: PDF
Размер: 19,3 Mb
Скачать: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий

Зарегистрируйся и увидишь ссылки. [ Регистрация | Вход ]